@InProceedings{FonsecaMato:2020:EsPrVi,
author = "Fonseca, Tatiana Regina da and Matos, Priscila Cust{\'o}dio",
affiliation = "{Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto
Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)}",
title = "Estudo preliminar de viabilidade de aplica{\c{c}}{\~a}o do
microsc{\'o}pio ac{\'u}stico para an{\'a}lise de falhas em
componentes eletr{\^o}nicos espaciais",
year = "2020",
organization = "Simp{\'o}sio de Aplica{\c{c}}{\~o}es Operacionais em {\'A}reas
de Defesa",
abstract = "T{\'e}cnicas experimentais n{\~a}o destrutivas no {\^a}mbito da
{\'a}rea an{\'a}lise de falhas permitem que numa mesma amostra
possam ser realizados v{\'a}rios ensaios, sem danific{\'a}-la,
aumentando consideravelmente as informa{\c{c}}{\~o}es obtidas
daquela amostra. Com isso, melhora-se o entendimento da causa de
falha e facilita-se a determina{\c{c}}{\~a}o da causa raiz do
problema. O Laborat{\'o}rio de Qualifica{\c{c}}{\~a}o de
Componentes (LQC) pertence ao Laborat{\'o}rio de
Integra{\c{c}}{\~a}o e Testes (LIT) do Instituto Nacional de
Pesquisas Espaciais (INPE) e v{\^e}m estudando t{\'e}cnicas
experimentais que possam auxiliar na investiga{\c{c}}{\~a}o de
falhas em componentes eletr{\^o}nicos empregados na
fabrica{\c{c}}{\~a}o de sat{\'e}lites. Os sat{\'e}lites
s{\~a}o submetidos a condi{\c{c}}{\~o}es severas durante a
opera{\c{c}}{\~a}o em ambiente espacial no espa{\c{c}}o e,
durante a simula{\c{c}}{\~a}o dessas condi{\c{c}}{\~o}es,
podem apresentar falhas que muitas vezes est{\~a}o associadas a
componentes eletr{\^o}nicos. Para este estudo, a t{\'e}cnica
n{\~a}o destrutiva a ser avaliada {\'e} a microscopia
ac{\'u}stica de varredura (SAM-Scanning Acoustic Microscopy). O
laborat{\'o}rio pretende identificar para quais
poss{\'{\i}}veis falhas e tipos de componentes eletr{\^o}nicos
o SAM {\'e} capaz de fornecer informa{\c{c}}{\~o}es relevantes
para a solu{\c{c}}{\~a}o do problema. A an{\'a}lise da
t{\'e}cnica ser{\'a} feita por meio de estudo de caso dos
laborat{\'o}rios de pesquisa do mundo, especificamente para
capacitores cer{\^a}micos de multicamada. A t{\'e}cnica SAM para
os capacitores se mostrou promissora e dever{\'a} ser aplicada
futuramente na institui{\c{c}}{\~a}o.",
conference-year = "29 a 30 set.",
label = "self-archiving-INPE-MCTIC-GOV-BR",
language = "pt",
targetfile = "fonseca_estudo.pdf",
urlaccessdate = "11 maio 2024"
}